技術(shù)指標(biāo)
l X射線發(fā)生器功率:3KW,Cu靶,具有CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路
l 測角儀為θ/θ測角儀,樣品水平放置不動(dòng),測角儀最小步進(jìn)為1/10000度
l θs/θd聯(lián)動(dòng)時(shí),角度測量范圍為-3°~160°
l 配備半導(dǎo)體陣列探測器,能量分辨率≦20%,可進(jìn)行高能量分辨測試。
功能及特性
l 粉末樣品的物相定性與定量分析,以及微區(qū)樣品的分析
l 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小
l 確定晶系、畸變
l Rietveld 定量分析聯(lián)系人:嚴(yán)春偉
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